在實(shí)驗中，科學(xué)家們通過(guò)短時(shí)間內抑制額葉腦的關(guān)鍵部位——背外側前額葉(DLPFC)，達到了預期的效果。背外側前額葉皮質(zhì)主要參與大腦的思考與推理。

　　文章稱(chēng)，在所有參與者中，接受了腦電刺激的參與者的創(chuàng )造力得到了明顯增強：“他們能夠跳出固有框架去思考”。

　　論文的第一作者是來(lái)自倫敦瑪麗女王大學(xué)生物和化學(xué)學(xué)院的CarolineDiBernardiLuft博士。他之前在倫敦大學(xué)金史密斯學(xué)院工作，與MichaelBanissy博士和JoydeepBhattacharya教授一起從事該項研究。Luft博士解釋說(shuō)：“我們習慣于利用過(guò)去的經(jīng)驗解決問(wèn)題，這個(gè)過(guò)程會(huì )變得自動(dòng)化，其中背外側前額葉起著(zhù)很關(guān)鍵的作用。”

　　“大多數時(shí)間里它都很有用，但是當我們遇到新問(wèn)題、需要新思維時(shí)，它的效果就不那么好了——我們過(guò)去的經(jīng)驗的確會(huì )阻礙創(chuàng )新。為了打破思維僵化，我們得從過(guò)去的經(jīng)驗里解綁。”

　　因此，研究人員嘗試使用了一種名為經(jīng)顱直流電刺激(tDCS)的技術(shù)。該技術(shù)需要在頭皮上安置經(jīng)過(guò)鹽水浸泡的電極，向電極輸送微弱的恒定電流，從而調整背外側前額葉的興奮程度。根據電流方向的不同，該腦區可以被暫時(shí)抑制或激活。微弱的電流也保證了不會(huì )對人體產(chǎn)生傷害或是引發(fā)不良反應。

　　60名參與者接受了如下的幾種實(shí)驗干預：抑制背外側前額葉,激活背外側前額葉,以及不對背外側前額葉進(jìn)行任何刺激。在干預前后，研究者分別檢測了參與者解決創(chuàng )造性問(wèn)題的能力。參與者要完成“火柴桿問(wèn)題”，其中一些題很難，要解答出來(lái)就得拋開(kāi)已知的算術(shù)和代數規則。

　　實(shí)驗顯示，背外側前額葉被電流暫時(shí)抑制的參與者比被激活或是未經(jīng)刺激的人更善于解決這些難題。這說(shuō)明了短暫抑制該腦區能幫助我們打破大腦對過(guò)去經(jīng)驗的依賴(lài)，跳出框架思考。

　　然而研究者也發(fā)現，背外側前額葉被抑制的參與者在工作記憶負荷較大的問(wèn)題上表現較差（這時(shí)需要大腦一次性記住很多內容）。此類(lèi)問(wèn)題需要嘗試幾種不同的步驟，直到找出答案，因此參與者必須跟蹤自己的心算過(guò)程。

　　Luft博士表示：“這些研究結果很重要，因為它們展現了用無(wú)創(chuàng )傷腦電刺激的方式增強創(chuàng )造力的可能性。”

　　“但我們的結果也說(shuō)明，要運用這項技術(shù)，必須考慮到目標認知效果的更多細節，而不是直接假設tDCS能提高認知能力，有些把tDCS賣(mài)給個(gè)人的公司就是那樣宣傳的。”她還說(shuō)，“我認為現在還不是寄希望于用電極帽刺激大腦提升認知的時(shí)候。”Luft博士稱(chēng)。